Výzkum

Vakuová napařovací aparatura SYRUSpro 710

Vakuová napařovací aparatura SYRUSpro 710 (Leybold Optics) pro depozice tenkých reflexních a antireflexních vrstev na optické komponenty.

Popis:

Česky

Tescan VEGA TS 5130MM

Tescan VEGA TS 5130MM – rastrovací elektronový mikroskop s motorizovaným manipulátorem

Hlavní přednosti:

Česky

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F s ultravysokým rozlišením – nástroj pro sledování nanomateriálů a nanostruktur.
Je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Díky režimu velmi pomalých elektronů je vhodný i pro pozorování nevodivých vzorků.

Hlavní přednosti:

Česky

Rastrovací elektronový mikroskop MAGELLAN 400

Rastrovací elektronový mikroskop MAGELLAN 400 se subnanometrovým rozlišením – nástroj pro analýzu nanomateriálů a nanostruktur je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Dále umožňuje pozorovat vzorky pro transmisní elektronovou mikroskopii a nevodivé vzorky.
 

Hlavní přednosti:

Česky

Přístrojové vybavení

Přístroje nabízíme pro spolupráci s akademickou i komerční sférou formou společných publikací, smluvního výzkumu či přípravě společného projektu. Dále uvádíme pouze výběr z přístrojů, kterými disponujeme.

Česky

Optomechanika koloidních fotonických struktur v slabě tlumeném režimu

V rámci projektu se zaměříme na studium optomechaniky fotonických struktur složených z mikročástic a nanočástic různých tvarů a materiálů v slabě tlumícím prostředí. V závislosti na materiálu částic použijeme pro jejich uspořádání dva přístupy. V prvním budou částice uspořádány pomocí silového působení světla mezi částicemi uvnitř mikrostruktury, tzv. optickou vazbou. Ve druhém budou částice zachyceny v lineární Pauliho pasti a jejich uspořádání bude dáno Coulombovskou interakcí.

Česky
Výzkum

Přednáška : "Elektronová mikroskopie v JFE Steel: SEM beyond the mainstream"

Dne 11.ledna 2018, v 10:30h přednese v přednáškovém sále Ústavu přístrojové techniky AV ČR Ing. Mgr. Šárka Mikmeková, Ph.D., ze společnosti JFE Steel Corporation, Kawasaki, Japonsko, přednášku na téma ,,Elektronová mikroskopie v JFE Steel: SEM beyond the mainstream". pokračování

Stránky

Přihlásit se k odběru RSS - Výzkum