Microscopy for Material Science

Error message

  • Notice: Trying to get property of non-object in csl_element->set_attributes() (line 269 of /var/www/docs_drupal/sites/all/modules/biblio/modules/CiteProc/CSL.inc).
  • Notice: Trying to get property of non-object in csl_element->set_attributes() (line 269 of /var/www/docs_drupal/sites/all/modules/biblio/modules/CiteProc/CSL.inc).

Nově vzniklá skupina se bude zabývat studiem pokročilých materiálů pomocí nekonvenčnímch metod rastrovací elektronové mikroskopie. Součástí skupiny bude i metalografická laboratoř, která bude optimalizovat a dále rozvíjet metody přípravy vzorků speciálně pro elektronovou mikroskopii. Nosným tématem skupiny je aplikace metody SLESEM (Super Low Energy Scanning Electron Microscopy) na pokročilé vysokopevnostní oceli (AHSS) a spektroskopie super-pomalých elektronů (<20 eV) v komerčních rastrovacích mikroskopech (Termofisher Scientific, Carl Zeiss, Tescan, Hitachi, Jeol). Skupina úzce spolupracuje s firmou JFE Steel Corporation (Tokyo, Japan), National
Institute for Materials Science - NIMS (Tsukuba, Japan), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology - AIST (Tsukuba, Japan) a dalšími partnery jak z akademické, tak komerční sféry.