Publikace - Elektronová litografie
Pro podrobné hledání publikací je možné využít on-line katalog ASEP.
|
Článek v odborném periodiku
2024
Ronoh, K., Novotný, J., Mrňa, L., Knápek, A., Sobola, D. Analysis of processing efficiency, surface, and bulk chemistry, and nanomechanical properties of the Monel® alloy 400 after ultrashort pulsed laser ablation. Materials Research Express. 2024, 11(1), 016514. E-ISSN 2053-1591. ABSTRACT
2023
Al Soud, A., Daradkeh, S. I., Knápek, A., Holcman, V., Sobola, D. Electrical characteristics of different concentration of silica nanoparticles embedded in epoxy resin. Physica Scripta. 2023, 98(12), 125520. ISSN 0031-8949. E-ISSN 1402-4896. ABSTRACT
Alabth, M., Shatnawi, M. T. M., Allaham, M. M., Burda, D., Mousa, M. S. Field electron emission from tungsten micro-tips coated with various thicknesses of polystyrene nanolayers: Characteristics & analysis. Ultramicroscopy. 2023, 244, 113643. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723. ABSTRACT
Knápek, A., Allaham, M. M., Burda, D., Sobola, D., Drozd, M., Horáček, M. Explanation of the quasi-harmonic field emission behaviour observed on epoxy-coated polymer graphite cathodes. Materials Today Communications. 2023, 34(March), 105270. ISSN 2352-4928. E-ISSN 2352-4928. ABSTRACT
Matějka, M., Kolařík, V., Pavlačík, P., Škoda, D., Brunn, O., Sadílek, J. Difraktivní optický element pro realizaci svítícího bodu v záměrném kříži pro puškohledovou optiku. Jemná mechanika a optika. 2023, 68(4), 87-90. ISSN 0447-6441
Ronoh, K., Fawaeer, S. H., Holcman, V., Knápek, A., Sobola, D. Comprehensive characterization of different metallic thin films on highly oriented pyrolytic graphite substrate. Vacuum. 2023, 215(September), 112345. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715. ABSTRACT
Ronoh, K., Sobola, D., Mrňa, L., Novotný, J., Dallaev, R., Knápek, A., Kolařík, V., Holcman, V. Characterization of the picosecond laser-ablated HOPG using Raman spectroscopy and SEM microscopy. Materials Today Communications. 2023, 34(MARCH), 105181. ISSN 2352-4928. E-ISSN 2352-4928. ABSTRACT
2022
Allaham, M. M., Forbes, R. G., Knápek, A., Sobola, D., Burda, D., Sedlák, P., Mousa, M. S. Interpretation of field emission current–voltage data: Background theory and detailed simulation testing of a user-friendly webtool. Materials Today Communications. 2022, 31(June), 103654. ISSN 2352-4928. E-ISSN 2352-4928. ABSTRACT
Krátký, S., Venos, Š., Kolařík, V., Pokorný, P., Úlehla, L. Příprava DOE generujících korigovaný gaussovský svazek pro aplikace s vysoce výkonnými lasery. Jemná mechanika a optika. 2022, 67(6), 138-141. ISSN 0447-6441.
Podstránský, J., Knápek, A. Automated defectoscopy of thin poly (methyl methacrylate) layers. Electroscope. 2022, 2022(1), 8. ISSN 1802-4564.
Popov, E. O., Filippov, S. V., Kolosko, A. G., Knápek, A. Comparison of the effective parameters of single-tip tungsten emitter using Fowler-Nordheim and Murphy-Good plots. Journal of Vacuum Science and Technology. Part B. Nanotechnology & Microelectronics. 2022, 40(2), 024201. ISSN 2166-2746. E-ISSN 2166-2754. ABSTRACT
Schánilec, V., Brunn, O., Horáček, M., Krátký, S., Meluzín, P., Šikola, T., Canals, B., Rougemaille, N. Approaching the Topological Low-Energy Physics of the F Model in a Two-Dimensional Magnetic Lattice. Physical Review Letters. 2022, 129(2), 027202. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114. ABSTRACT
2021
Brunn, O., Perrin, Y., Canals, B., Rougemaille, N. Signatures of farther neighbor couplings in artificial square ice. Physical Review B. 2021, 103(9), 094405. ISSN 2469-9950. E-ISSN 2469-9969. ABSTRACT
Kaspar, P., Sobola, D., Částková, K., Dallaev, R., Šťastná, E., Sedlák, P., Knápek, A., Trčka, T., Holcman, V. Case study of polyvinylidene fluoride doping by carbon nanotubes. Materials. 2021, 14(6), 1428. E-ISSN 1996-1944. ABSTRACT
Řiháček, T., Horák, M., Schachinger, T., Mika, F., Matějka, M., Krátký, S., Fořt, T., Radlička, T., Johnson, C. W., Novák, L., Seďa, B., Mcmorran, B.J., Müllerová, I. Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope. Ultramicroscopy. 2021, 225(June), 113268. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723. ABSTRACT
Sobola, D., Kaspar, P., Částková, K., Dallaev, R., Papež, N., Sedlák, P., Trčka, T., Orudzhev, F., Kaštyl, J., Weiser, A., Knápek, A., Holcman, V. PVDF Fibers Modification by Nitrate Salts Doping. Polymers. 2021, 13(15), 2439. E-ISSN 2073-4360. ABSTRACT
Stoklasová, P., Grabec, T., Zoubková, K., Sedlák, P., Krátký, S., Seiner, H. Laser-Ultrasonic Characterization of Strongly Anisotropic Materials by Transient Grating Spectroscopy. Experimental Mechanics. 2021, 61(4), 663-676. ISSN 0014-4851. E-ISSN 1741-2765. ABSTRACT
Šimonová, L., Matějka, M., Knápek, A., Králík, T., Pokorná, Z., Mika, F., Fořt, T., Man, O., Škarvada, P., Otáhal, A., Čudek, P. Nanostructures for Achieving Selective Properties of a Thermophotovoltaic Emitter. Nanomaterials. 2021, 11(9). ISSN 2079-4991. ABSTRACT
Tučková, T., Šiler, M., Boonzajer Flaes, D. E., Jákl, P., Turtaev, S., Krátký, S., Heintzmann, R., Uhlířová, H., Čižmár, T. Computational image enhancement of multimode fibre-based holographic endo-microscopy: harnessing the muddy modes. Optics Express. 2021, 29(23), 38206-38220. ISSN 1094-4087. ABSTRACT
2020
Allaham, M.M., Forbes, R.G., Knápek, A., Mousa, M.S. Implementation of the orthodoxy test as a validity check on experimental field emission data. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. 2020, 71(1), 37-42. ISSN 1335-3632. ABSTRACT
Al Soud, A., Knápek, Alexandr, Mousa, M.S. Analysis of the Various Effects of Coating W Tips with Dielectric Epoxylite 478 Resin or UPR-4 Resin Coatings under Similar Operational Conditions. Jordan Journal of Physics. 2020, 13(3), 191-199. ISSN 1994-7607. ABSTRACT
Kaspar, P., Sobola, D., Částková, K., Knápek, Alexandr, Burda, Daniel, Orudzhev, F., Dallaev, R., Tofel, P., Trčka, T., Grmela, L., Hadaš, Z. Characterization of Polyvinylidene Fluoride (PVDF)Electrospun Fibers Doped by Carbon Flakes. Polymers. 2020, 12(NOV), 2766. ISSN 2073-4360. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Drozd, Michal, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Král, Stanislav, Kolařík, Vladimír. Automated System for Optical Inspection of Defects in Resist-coated Non-patterned Wafer. Jordan Journal of Physics. 2020, 13(2), 93-100. ISSN 1994-7607. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Dallaev, R., Burda, Daniel, Sobola, D., Allaham, M.M., Horáček, Miroslav, Kašpar, P., Matějka, Milan, Mousa, M.S. Field Emission Properties of Polymer Graphite Tips Prepared by Membrane Electrochemical Etching. Nanomaterials. 2020, 10(7), 1294. ISSN 2079-4991. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Horáček, Miroslav, Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Brunn, Ondřej, Burda, Daniel, Kolařík, Vladimír. Vlastnosti kvaziperiodických spirálových mikrostruktur. Jemná mechanika a optika. 2020, 65(6), 175-178. ISSN 0447-6441.
Matějka, M., Krátký, S., Řiháček, T., Knápek, A., Kolařík, V. Functional nano-structuring of thin silicon nitride membranes. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. 2020, 71(2), 127-130. ISSN 1335-3632. ABSTRACT
Mousa, M.S., Knápek, Alexandr, Grmela, L. Similarities and Differences between Two Researches in Field Electron Emission: A Way to Develop a More Powerful Electron Source. Jordan Journal of Physics. 2020, 13(2), 171-179. ISSN 1994-7607. ABSTRACT
Ramazanov, S., Sobola, D., Orudzhev, F., Knápek, Alexandr, Polčák, J., Potoček, M., Kašpar, P., Dallaev, R. Surface Modification and Enhancement of Ferromagnetism in BiFeO3 Nanofilms Deposited on HOPG. Nanomaterials. 2020, 10(10), 1990. ISSN 2079-4991. ABSTRACT
Saqib, M., Jelenc, J., Pirker, L., Škapin, S.D., De Pietro, L., Ramsperger, U., Knápek, A., Müllerová, I., Remškar, M. Field emission properties of single crystalline W5O14 and W18O49 nanowires. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 2020, 241(MAY), 146837. ISSN 0368-2048. ABSTRACT
Sobola, D., Ramazanov, S., Konečný, M., Orudzhev, F., Kaspar, P., Papež, N., Knápek, A., Potoček, M. Complementary SEM-AFM of Swelling Bi-Fe-O Film on HOPG Substrate. Materials. 2020, 10(13), 2402. ISSN 1996-1944. ABSTRACT
2019
Abrams, K.J., Dapor, M., Stehling, N., Azzolini, M., Kyle, S.J., Schäfer, J.S., Quade, A., Mika, Filip, Krátký, Stanislav, Pokorná, Zuzana, Konvalina, Ivo, Mehta, D., Black, K., Rodenburg, C. Making Sense of Complex Carbon and Metal/Carbon Systems by Secondary Electron Hyperspectral Imaging. Advanced Science. 2019, 6(19), 1900719. ISSN 2198-3844. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Šikula, J., Bartlová, M. Fluctuations of focused electron beam in a conventional SEM. Ultramicroscopy. 2019, 204, 49-54. ISSN 0304-3991. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Sobola, D., Burda, Daniel, Daňhel, Aleš, Mousa, M., Kolařík, Vladimír. Polymer Graphite Pencil Lead as a Cheap Alternative for Classic Conductive SPM Probes. Nanomaterials. 2019, 9(12), 1756. ISSN 2079-4991. ABSTRACT
Kolařík, Vladimír, Horáček, Miroslav, Knápek, Alexandr, Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Meluzín, Petr. Spiral arrangement: From nanostructures to packaging. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. 2019, 70(1), 74-77. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X. ABSTRACT
Konvalina, Ivo, Mika, Filip, Krátký, Stanislav, Materna-Mikmeková, Eliška, Müllerová, Ilona. In-Lens Band-Pass Filter for Secondary Electrons in Ultrahigh Resolution SEM. Materials. 2019, 12(14), 2307. ISSN 1996-1944. ABSTRACT
2018
Knápek, Alexandr, Horáček, Miroslav, Chlumská, Jana, Kuparowitz, T., Sobola, D., Šikula, J. Preparation and noise analysis of polymer graphite cathode. Metrology and Measurement Systems. 2018, vol. 25, iss. 3, pp. 451-458. ISSN 0860-8229. ABSTRACT
Pilát, Zdeněk, Kizovský, Martin, Ježek, Jan, Krátký, Stanislav, Sobota, Jaroslav, Šiler, Martin, Samek, Ota, Buryška, T., Vaňáček, P., Damborský, J., Prokop, Z., Zemánek, Pavel. Detection of chloroalkanes by surface-enhanced raman spectroscopy in microfluidic chips. Sensors. 2018, vol. 18, iss. 10, 3212. ISSN 1424-8220. ABSTRACT
2017
Knápek, Alexandr, Sobola, D., Tománek, P., Pokorná, Zuzana, Urbánek, Michal. Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite. Applied Surface Science. 2017, vol. 395, pp. 157-161. ISSN 0169-4332. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Sýkora, Jiří, Chlumská, Jana, Sobola, D. Programmable set-up for electrochemical preparation of STM tips and ultra-sharp field emission cathodes. Microelectronic Engineering. 2017, vol. 173, pp. 42-47. ISSN 0167-9317. ABSTRACT
Knápek, Alexandr, Horáček, Miroslav, Chlumská, Jana, Král, Stanislav. Studená autoemisní katoda z tuhy do mikrotužky?. Jemná mechanika a optika. 2017, roč. 62, č. 10, s. 251-253. ISSN 0447-6441.
Krátký, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. Combined e-beam lithography using different energies. Microelectronic Engineering. 2017, roč. 177, pp. 30-34. ISSN 0167-9317. ABSTRACT
Maňka, Tadeáš, Šerý, Mojmír, Lazar, Josef, Číp, Ondřej, Krátký, Stanislav, Zemánek, Pavel. Laserový systém pro odměřování reliéfu MIEMS vytvářeného metodou hlubokého reaktivního leptání. Jemná mechanika a optika. 2017, roč. 62, č. 10, s. 270-272. ISSN 0447-6441.
2016
Bok, Jan; Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal; Krzyžánek Vladislav. Measurements of current density distribution in shaped e-beam writers. Microelectronic Engineering, 2016, vol. 149, JAN., pp. 117-124. ISSN 0167-9317. ABSTRACT
2015
Knápek, Alexandr; Radlička, Tomáš; Krátký, Stanislav. Simulation and Optimization of a Carbon Nanotube Electron Source. Microscopy and Microanalysis. 2015, vol. 21, iss. S4, pp. 60-65. ISSN 1431-9276. ABSTRACT
Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Chlumská, Jana; Matějka, Milan; Meluzín, Petr; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav. Kombinace elektronové litografie s gaussovským svazkem a s proměnným tvarovaným svazkem. Jemná mechanika a optika. 2015, roč. 60, č. 1, s. 10-13. ISSN 0447-6441.
Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír. PEC Reliability in 3D E-beam DOE Nanopatterning. Microscopy and Microanalysis. 2015, vol. 21, iss. S4, pp. 2030-235. ISSN 1431-9276. ABSTRACT
2014
Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Matějka, Milan; Kolařík, Vladimí; Horáček, Miroslav. Metody zápisu nanostruktur rastrovací sondou. Chemické listy. 2014, roč. 108, č. 10, s. 937-941. ISSN 0009-2770. ABSTRACT
Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Matějka, Milan; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav. Plazmochemické leptání křemíku v zařízení Diener nano. Chemické listy. 2014, roč. 108, č. 6, s. 592-595. ISSN 0009-2770. ABSTRACT
2013
Bok, Jan; Kolařík, Vladimí; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan; Matějka, František. Modified knife-edge method for current density distribution measurements in e-beam writers. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2013, vol. 31, iss. 3, 031603:1-6. ISSN 1071-1023. ABSTRACT
2012
Horáček, Miroslav; Matějka, František; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal. Nano modifikace hrotu W(100)/ZrO elektronového emitéru reaktivním iontovým leptáním. Jemná mechanika a optika. 2012, roč. 57, č. 10, s. 278-280. ISSN 0447-6441.
2011
Kolařík, Vladimír; Matějka, František; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan; Urbánek, Michal. Nanolitografie a kompenzace magnetického pole v prostředí s průmyslovým rušením. Jemná mechanika a optika. 2011, roč. 56, č. 11-12, s. 312-316. ISSN 0447-6441.
Kroupa, M.; Jakubek, J.; Krejčí, F.; Žemlička, J.; Horáček, Miroslav; Radlička, Tomáš; Vlček, Ivan. Coincidence imaging system with electron optics. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. 2011, vol. 633, Supl. 1, S270-S273. ISSN 0168-9002. ABSTRACT
Monografie
2013
Matějka, František.Praktická elektronová litografie. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i, 2013. 88 s. ISBN 978-80-87441-04-6
Konferenční příspěvek - zahraniční konference
2023
Burda, D., Allaham, M. M., Horáček, M., Knápek, A. Study of Dielectric Nanolayers and Multilayer Coated Emitters. In: 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2023, s. 53-54. ISBN 979-8-3503-0143-4. ISSN 2164-2370.
Košelová, Z., Horáková, L., Sobola, D., Burda, D., Knápek, A., Fohlerová, Z. Functional Tungsten-based thin films and their characterization. In: METAL 2023. 32nd International Conference on Metallurgy and Materials. Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, 2024, s. 473-479. ISBN 978-80-88365-12-9. ISSN 2694-9296.
2022
Burda, D., Knápek, A. Effect Of Al2O3 Barrier On The Field Emission Properties Of Tungsten Single-Tip Field Emitters. In: Novák, V., ed. Proceedings II of the 28th Conference STUDENT EEICT 2022. Selected Papers. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, 2022, s. 255-258. ISBN 978-80-214-6030-0. ISSN 2788-1334.
Krátký, S., Kolařík, V., Mikel, B., Helán, R., Urban, F. Příprava fázových binárních mřížek pomocí elektronové litografie a reaktivního iontového leptání pro výrobu optických vláknových senzorů. In: Růžička, B., ed. LA62. Sborník příspěvků multioborové konference LASER62. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2022, s. 43-44. ISBN 978-80-87441-30-5.
2021
Allaham, M. M., Mousa, M. S., Burda, D., Alsa'eed, M., Aljrawen, S., Knápek, A. Analyses of field electron emission Molybdenum current-voltage data using Fowler-Nordheim and Murphy-Good plots. In: Purcell, S., Mazellier, J.-P., eds. 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021, (2021), s. 151-152. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
Allaham, M. M., Knápek, A., Mousa, M. S., Forbes, R. G. User-friendly method for testing field electron emission data: Technical report. In: Purcell, S., Mazellier, J.-P., eds. 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021, (2021), s. 138-139. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
Burda, D., Allaham, M. M., Knápek, A., Sobola, D., Mousa, M. S. Field emission properties of sharp tungsten cathodes coated with a thin resilient oxide barrier. In: Purcell, S., Mazellier, J.-P., eds. 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021, (2021), s. 178-179. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
Hausladen, M., Bomke, V., Buchner, P., Bachmann, M., Knápek, A., Schreiner, R. Influence of Geometrical Arrangements of Si Tip Arrays Fabricated by Laser Micromachining on their Emission Behaviour. In: Purcell, S., Mazellier, J.-P., eds. 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021, (2021), s. 169-170. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
Horáček, M., Krátký, S., Matějka, M., Chlumská, J., Meluzín, P., Pirunčík, J., Aubrecht, I., Kotrlý, M., Kolařík, V. A sampler of diffraction and refraction optically variable image elements. In: NANOCON 2021 - Conference proceedings. Ostrava: Tanger Ltd., 2021, s. 436-441. ISBN 978-80-88365-00-6. ISSN 2694-930X.
Chlumská, J., Lalinský, O., Matějka, M., Krátký, S., Kolařík, V. Patterning of conductive nano-layers on garnet. In: NANOCON 2020 - Conference proceedings. 12th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. Ostrava: TANGER, 2021, (2021), s. 221-224. ISBN 978-80-87294-98-7. ISSN 2694-930X.
Popov, E. O., Filippov, S. V., Kolosko, A. G., Knápek, A. Comparison of the effective parameters of single-tip tungsten emitter using FN and MG-plots. In: Purcell, S., Mazellier, J.-P., eds. 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021, (2021), s. 163-164. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
2019
Krutil, Vojtěch, Dupák, Libor, Fořt, Tomáš, Matějka, Milan, Srnka, Aleš, Vlček, Ivan, Urban, Pavel. Design of Cryogenic Sample Holder with Electrical Contacts for UHV SEM/SPM. In: 15th Cryogenics 2019 IIR International Conference. Proceedings. Paris: IIR, 2019, s. 369-377. Refrigeration Science and Technology. ISBN 978-2-36215-025-8. ISSN 0151-1637.
Pilát, Zdeněk, Ježek, Jan, Kizovský, Martin, Klementová, Tereza, Krátký, Stanislav, Sobota, Jaroslav, Samek, Ota, Zemánek, Pavel, Buryška, T., Damborský, J., Prokop, Z. Surface-enhanced Raman Spectroscopy in Microfluidic Chips for Directed Evolution of Enzymes and Environmental Monitoring. In: PhotonIcs and Electromagnetics Research Symposium - Spring, PIERS-Spring 2019. Proceedings. New York: IEEE, 2019, s. 1301-1309. Progress in Electromagnetics Research Symposium. ISBN 978-1-7281-3403-1. ISSN 1559-9450.
2018
Horáček, Miroslav, Knápek, Alexandr, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Urbánek, M., Mika, Filip, Kolařík, Vladimír. Hiding e-beam exposure fields by deterministic 2D pattering. In: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, 36-37. ISBN 978-80-87441-23-7.
Maňka, Tadeáš, Šerý, Mojmír, Krátký, Stanislav, Zemánek, Pavel. Laser system for measuring MEMS relief created by the method of deep reactive ion etching. In: Zemánek, Pavel, ed. 21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018, 109760M. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
Meluzín, Petr, Tryhuk, V., Horáček, Miroslav, Knápek, Alexandr, Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Kolařík, Vladimír. Silver micro drop structured twice around the earth. In: Metal 2018 - 27th International conference on metallurgy and materials, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2018, 1175-1180. ISBN 978-80-87294-84-0.
Pilát, Zdeněk, Kizovský, Martin, Ježek, Jan, Krátký, Stanislav, Sobota, Jaroslav, Šiler, Martin, Samek, Ota, Buryška, T., Vaňáček, P., Damborský, J., Prokop, Z., Zemánek, Pavel. Surface-enhanced Raman spectroscopy of chloroalkanes in microfluidic chips. In: Zemánek, Pavel, ed. 21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018, 1097619. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
Rodenburg, C., Masters, R., Abrams, K., Dapor, M., Krátký, Stanislav, Mika, Filip. Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts? In: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
Řiháček, Tomáš, Horák, M., Schachinger, T., Matějka, Milan, Mika, Filip, Müllerová, Ilona. Creation of electron vortex beams using the holographic reconstruction method in a scanning electron microscope. In: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, 66-67. ISBN 978-80-87441-23-7.
Saqib, M., Knápek, Alexandr, Jelenc, J., Pirker, L. Field emission from W5O14 nanowires. In: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, 34-35. ISBN 978-80-87441-23-7.
Urbánek, M., Urbánek, P., Kuřitka, I., Kolařík, Vladimír. Photolitography on flexible substrates. In: 9th International conference on nanomaterrials - research & application (NANOCON 2017). Proceedings. Ostrava: TANGER, 2018, 914-917. ISBN 978-80-87294-81-9.
2017
Krátký, Stanislav, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Oulehla, Jindřich, Pesic, Z. Lift-off technology for thick metallic microstructures. In: METAL 2017. 26th International Conference on Metallurgy and Materials. Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, 2017, s. 1298-1302. ISBN 978-80-87294-79-6. [METAL 2017. International Conference on Metallurgy and Materials /26./, Brno, 24.05.2017-26.05.2017, CZ].
Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Krátký, Stanislav, Knápek, Alexandr, Mika, Filip, Chlumská, Jana, Matějka, František, Král, Stanislav, Brunn, Ondřej, Giričová, D., Kopal, Jaroslav, Kolařík, Vladimír. Deterministicky aperiodické obrazové zařízení. In: Růžička, Bohdan ed. Sborník příspěvků multioborové konference LASER57. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2017, s. 34-35. ISBN 978-80-87441-21-3. [LASER57, Třešť, 08.11.2017-10.11.2017, CZ].
Knápek, Alexandr, Horáček, Miroslav, Hrubý, František, Šikula, J., Kuparowitz, T., Sobola, D. Noise behaviour of field emission cathode based on lead pencil graphite. In: 30th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). Piscataway: IEEE, 2017, s. 274-275. ISBN 978-1-5090-3975-3. E-ISSN 2380-6311. [International Vacuum Nanoelectronics Conference /30./ (IVNC), Regensburg, 10.07.2017-14.07.2017, DE].
Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Kolařík, Vladimír. Phyllotactic Arrangements of Optical Elements. In: Holography: Advances and Modern Trends V. (Proceedings of SPIE 10233). Bellingham: SPIE, 2017, č. článku 102331G. ISBN 978-1-5106-0967-9. ISSN 0277-786X. [Holography: Advances and Modern Trends /5./, Prague, 24.04.2017-27.04.2017, CZ].
Krátký, Stanislav, Meluzín, Petr, Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Král, Stanislav. Blaze Gratings with a Ribbed Back Slope. In: NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 757-761. ISBN 978-80-87294-71-0. [NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno, 19.10.2016-21.10.2016, CZ].
Matějka, Milan, Kolařík, Vladimír, Horáček, Miroslav, Král, Stanislav. Parameter Optimization of Multi-Level Diffraction Gratings. In: NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 751-756. ISBN 978-80-87294-71-0. [NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno, 19.10.2016-21.10.2016, CZ].
Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Řiháček, Tomáš, Kolařík, Vladimír, Chlumská, Jana, Urbánek, Michal. Nanopatterning of Silicon Nitride Membranes. In: NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 709-714. ISBN 978-80-87294-71-0. [NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno, 19.10.2016-21.10.2016, CZ
Meluzín, Petr, Horáček, Miroslav, Krátký, Stanislav, Kolařík, Vladimír. Structural Colors of Self-Similar Nano Patterns. In: NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 703-708. ISBN 978-80-87294-71-0. [NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno, 19.10.2016-21.10.2016, CZ].
Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Krátký, Stanislav, Urbánek, Michal, Bok, Jan, Kolařík, Vladimír. Phyllotactic Model Linking Nano and Macro World. In: NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 680-684. ISBN 978-80-87294-71-0. [NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno, 19.10.2016-21.10.2016, CZ].
2016
Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Bok, Jan. Large-area gray-scale structures in e-beam writer versus area current homogeneity and deflection uniformity. In Mika, Filip (ed.). Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016, S. 26-27. ISBN 978-80-87441-17-6. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr, 29.05.2016-03.06.2016, CZ]. ABSTRACT
Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Krátký, Stanislav; Meluzín, Petr; Chlumská, Jana; Matějka, Milan; Král, Stanislav. Laser a fylotaxe. In Sborník příspěvků multioborové konference LASER56. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2016, S. 36-37. ISBN 978-80-87441-18-3. [LASER56., Třešť, 19.10.2016-21.10.2016, CZ].
Konvalina, Ivo; Mika, Filip; Krátký, Stanislav; Müllerová, Ilona. Bandpass filter for secondary electrons in SEM - simulations. In Mika, Filip (ed.). Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016, S. 28-29. ISBN 978-80-87441-17-6. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr, 29.05.2016-03.06.2016, CZ].
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. Combined e-beam lithography using different energies. In MNE. 42nd International Conference on Micro and Nano Engineering. Viena: Mondial, 2016. [International Conference on Micro and Nano Engineering /42./, Vienna, 19.09.2016-23.09.2016, AT].
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Holá, Miroslava; Meluzín, Petr. E-beam grayscale exposures into acrylic-glass plate. In MNE. 42nd International Conference on Micro and Nano Engineering. Vienna: Mondial, 2016. [International Conference on Micro and Nano Engineering /42./, Vienna, 19.09.2016-23.09.2016, AT].
Mika, Filip; Konvalina, Ivo; Krátký, Stanislav; Müllerová, Ilona. Bandpass filter for secondary electrons in SEM - experiments. In Mika, Filip (ed.). Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016, S. 36-37. ISBN 978-80-87441-17-6. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr, 29.05.2016-03.06.2016, CZ]. ABSTRACT
Řiháček, Tomáš; Mika, Filip; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Müllerová, Ilona. Difraction in a scanning electron microscopie. In Mika, Filip (ed.). Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016, S. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr, 29.05.2016-03.06.2016, CZ].
2015
Konvalina, Ivo; Mika, Filip; Müllerová, Ilona; Krátký, Stanislav. Band-pass-filter for secondary electrons in ultra-high resolution SEM. In MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, S. 378-379. [Microscopy Conference 2015, Göttingen, 06.09.2015-11.09.2015, DE]
Krátký, Stanislav; Meluzín, Petr; Urbánek, Michal; Matějka, Milan; Chlumská, Jana; Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír. Amplitudově fázová vortexová maska. In Sborník příspěvků multioborové konference LASER 55. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2015, S. 32-33. ISBN 978-80-87441-16-9. [LASER 55, Třešť, 21.10.2015-23.10.2015, CZ]
Řiháček, Tomáš; Mika, Filip; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Müllerová, Ilona . Study of the coherence of the primary beam in the low energy scanning electron microscope. In MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, S. 611-612. [Microscopy Conference 2015, Göttingen, 06.09.2015-11.09.2015, DE]
2014
Horáček, Miroslav; Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; - Kolařík, Vladimír; Meluzín, Petr; Matějka, Milan; Chlumská, Jana. Exposure Time Comparison between E-beam Writer with Gaussian Beam and Variable Shaped Beam. In NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava : TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0. [NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]. ABSTRACT
Horáček, Miroslav; Bok, Jan; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav. Measurement of current density distribution in shaped e-beam writers. In 18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha : Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7. [International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Urbánek, Michal; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Bok, Jan. Structural Color of Metallic Surfaces. In METAL 2014. 23. ročník mezinárodní konference metalurgie a materiálů. Conference Proceedings. Ostrava : TANGER, 2014, s. 962-967. ISBN 978-80-87294-52-9. [METAL 2014. Mezinárodní konference metalurgie a materiálů /23./. Brno (CZ), 21.05.2014-23.05.2014]
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal; Paták, Aleš; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan. E-beam Nano-patterning for Electroforming Replication. in NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava : TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0. [NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]. ABSTRACT
Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Chlumská, Jana; Matějka, Milan; Šerý, Mojmír; Mikel, Břetislav. Fázové masky vyrobené elektronovou litografií a iontovým leptáním pro přípravu vláken s braggovými mřížkami. In [Phase photo masks produced by means of electron beam lithography and ion etching for Bragg gratings.] Sborník příspěvků multioborové konference Laser54. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2014, s. 31-32. ISBN 978-80-87441-13-8. [Laser54. Třešť (CZ), 29.10.2014-31.10.2014]
Meluzín, Petr; Horáček, Miroslav; Urbánek, Michal; Bok, Jan; Krátký, Stanislav; Matějka, Milan; Chlumská, Jana; Kolařík, Vladimír. Some Other Gratings: Benchmarks for Large-Area E-Beam Nanopatterning. In NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava : TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0. [NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]. ABSTRACT
Müllerová, Ilona; Radlička, Tomáš; - Mika, Filip; Krzyžánek, Vladislav; Neděla, Vilém; Sobota, Jaroslav; Zobač, Martin; Kolařík, Vladimír; Starčuk jr., Zenon; Srnka, Aleš; Jurák, Pavel; Zemánek, Pavel; Číp, Ondře; Lazar, Josef; Mrňa, Libor . Main Activites of the Institute of Scientific Instruments. In Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014, s. 7-8. ISBN 978-80-87441-12-1. [Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Mikulov (CZ), 26.08.2014-31.08.2014]
Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Šimík, M.; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan. Plasmonic Structures In PMMA Resist. In NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava : TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0. [NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]. ABSTRACT
2013
Chlumská, Jana; Kolařík, Vladimír; Krátký, Stanislav; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Horáček, Miroslav Lift-Off technique using different e-beam writers. In NANOCON 2013. 5th International conference proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2013, s. 286-290. ISBN 978-80-87294-47-5. [NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Kolařík, Vladimír; Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Matějka, Milan; Chlumská, Jana; Horáček, Miroslav. Microstructuring of metallic layers for sensor applications. In METAL 2013 Conference Proceedings. 22nd International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava : TANGER Ltd, 2013, s. 1069-1073. ISBN 978-80-87294-41-3. [METAL 2013. International Conference on Metallurgy and Materials /22./. Brno (CZ), 15.05.2013-17.05.2013]. ABSTRACT
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Horáček, Miroslav; Chlumská, Jana. Comparison of ultimate resolution achieved by e-beam writers with shaped beam and with Gaussian beam. InNANOCON 2013. 5th International conference proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2013, s. 392-398. ISBN 978-80-87294-47-5. [NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimí; Krátký, Stanislav; Matějka, Milan; Horáček, Miroslav; Chlumská, Jana Monte-Carlo simulation of proximity effect in e-beam lithography. In NANOCON 2013. 5th International conference proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2013, s. 723-726. ISBN 978-80-87294-47-5. [NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
2012
Bok, Jan; Horáček, Miroslav; Král, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Matějka, František . Analysis of electron current instability in E-beam writer. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 295-299. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Bok, Jan; Kolařík, Vladimír. Measurements of current density distribution in e-beam writer. In Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 7-8 ISBN 978-80-87441-07-7. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Horáček, Miroslav; Matějka, František; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal. Nano modification of the W(100)/ZrO electron emitter tip using reactive ion etching. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 723-728. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal ; Matějka, František; Matějka, Milan. Thin Metallic Layers Structured by E-beam Lithography. In METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava : TANGER Ltd, 2012. ISBN 978-80-87294-29-1. ABSTRACT
Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Matějka, František; Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Horáček, Miroslav - Král, Stanislav; Bok, Jan. Calibration specimens for microscopy. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 713-716. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Kolařík, Vladimí; - Horáček, Miroslav; Matějka, František; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Král, Stanislav; Bok, Jan. E-beam pattern generator BS600 and technology zoom. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 822-825. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Kolařík, Vladimír; Zobač, Martin; Fořt, Tomáš; Vlček, Ivan; Dupák, Libor; Mikmeková, Šárka; Mikmeková, Eliška; Mrňa, Libor; Horáček, Miroslav; Sobota, Jaroslav. Institute of Scientific Instruments: An Overview Presenatation. In METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 26-31. ISBN 978-80-87294-29-1. [METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Král, Stanislav; Krátký, Stanislav; Mikšík, P. ; Vašina, J. Proximity effect simulation for variable shape e-beam writer. In Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 75-76 ISBN 978-80-87441-07-7. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Kolařík, Vladimír; Matějka, František; Matějka, Milan; Horáček, Miroslav; Urbánek, Michal; Bok, Jan; Krátký, Stanislav; Král, Stanislav; Mika, Filip. What is the buzz about the TZ mode. In Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 37-38 ISBN 978-80-87441-07-7. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Matějka, František; Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan. Thermal-field electron emission W(100)/ZrO cathode: facets versus edges. In Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 27-28 ISBN 978-80-87441-07-7.[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Matějka, Milan; Urbánek, M.; Kolařík, V.; Horáček, M.; Krátký, Stanislav; Mikšík, P. ; Vašina, J. Variable-shape E-beam litography: Proximity effect simulation of 3D micro and nano sructures. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 729-732. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Matějka, František; Bok, Jan; Mikšík, P.; Vašina, J. Shaped E-beam nanopatterning with proximity effect correction. In NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava : TANGER Ltd, 2012, s. 717-722. ISBN 978-80-87294-32-1. [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
2011
Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír. Scanning Probe Microscopy: Measuring on Hard Surfaces. In NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava : Tanger spol. s r. o, 2011, s. 701-704. ISBN 978-80-87294-27-7. [NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]. ABSTRACT
Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan. SPM Nanoscratching in the Sub 100 nm Resolution. InNANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava : Tanger spol. s r. o, 2011, s. 213-217. ISBN 978-80-87294-27-7. [NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]. ABSTRACT
2010
Matějka, František; Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Král, Stanislav. Modification of the Schottky FE ZrO/W electron emitter. In Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.12: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2. [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Matějka, František; Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Král, Stanislav. Modification of the Schottky Fe ZrO/W electron emitter. In Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 13-14. ISBN 978-80-254-6842-5. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]. ABSTRACT
Matějka, Milan; Rek, Antonín; Mika, Filip; Fořt, Tomáš; Matějková, Jiřina. Comparison of techniques for diffraction grating topography analysis. In Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 29-32. ISBN 978-80-254-6842-5. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]. ABSTRACT
Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír; Král, Stanislav; Dvořáková, Marie. Determination of proximity effect forward scattering range parameter in e-beam lithography. In Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 67-68 ISBN 978-80-254-6842-5. [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]. ABSTRACT
Konferenční příspěvek - lokální konference
2021
Helán, R., Šifta, R., Urban, F., Urban Jr., F., Mikel, B., Krátký, S., Kolařík, V. Vláknové mřížky pro senzorické účely a návrh nelineárních struktur. In: Růžička, B., ed. LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021, s. 80-81. ISBN 978-80-87441-28-2.
Krátký, S., Kolařík, V., Mikel, B., Helán, R., Urban, F. Studium vlivu geometrických parametrů fázových binárních mřížek na jejich optickou odezvu pro potřeby přípravy optických vláknových senzorů. In: Růžička, B., ed. LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021, s. 43-44. ISBN 978-80-87441-28-2.
Mrňa, L., Novotný, J., Kolařík, V. Studie využití pikosekundového mikroobrábění pro výrobu reflexních DOE elementů pro výkonové CW lasery. Další aktivity. In: Růžička, B., ed. LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021, s. 59-60. ISBN 978-80-87441-28-2.
2012
Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan. Počítačem generované hologramy - CGH. In Růžička, B.; Čeledová, J.(ed.). Sborník příspěvků multioborové konference LASER52. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i, 2012, s. 31 ISBN 978-80-87441-08-4. [LASER52. Třešť (CZ), 31.10.2012-02.11.2012]
Aplikované výsledky a užitný a průmyslový vzor
2024
Matějka, M., Brunn, O. Kalibrační standard s mikro reliéfní kalibrační strukturou zaznamenané v tenké vrstvě. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2024. Funkční vzorek APL-2024-01.
2023
Krátký, S., Černý, Š., Matějka, M., Stříteský, S., Sadílek, J., Kandra, M., Motlová, T., Chlumská, J., Lexa, P., Ryzí, Z., Oulehla, J. Optické prvky pro přesnou distribuci světla – LED zdroje. IQS nano s.r.o., 2023. Funkční vzorek APL-2023-02.
Nahálka, R., Dřevíkovský, J., Holec, P., Krčmářová, Ž., Vyšín, T., Finke, M., Jablonovský, B., Voseček, T., Bosák, M., Dvořák, R., Lexa, P., Bourek, J., Horáček, M., Meluzín, P. Strojově čitelný bezpečnostní prvek s nejvyšším stupněm zabezpečení. IQS Group, s. r. o., 2023. Funkční vzorek APL-2023-04.
2022
Helán, R., Urban, F., Somer, J., Krátký, S., Kolařík, V., Mikel, B. Vláknový spektrální filtr s nelineárně proměnnou periodou difrakční struktury. PROFIcomms s.r.o., 2022. Funkční vzorek APL-2022-34.
Horáček, M., Sadílek, J., Matějka, M., Knápek, A., Krátký, S., Meluzín, P., Kopal, J. Planární optický prvek. Užitný vzor 36445. 14. 10. 2022.
Knápek, A., Dupák, L., Matějka, M. Autoemisní mikroskop pro analýzu hrotu sondy. Užitný vzor 36068. 26. 5. 2022.
Kolařík, V., Horáček, M., Meluzín, P., Burda, D., Krátký, S., Matějka, M., Chlumská, J., Pirunčík, J., Aubrecht, I. Komplexní zabezpečovací známka. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2022. Funkční vzorek APL–2022‐05.
Krátký, S., Kolařík, V., Mikel, B., Fořt, T., Helán, R., Urban, F. Nelineární fázová maska pro výrobu vláknových filtrů s definovanou strmostí spektrální charakteristiky. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2022. Funkční vzorek APL-2022-30.
Mika, F., Krátký, S., Pokorná, Z. Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2022. Funkční vzorek APL-2022-11.
Mrňa, L., Kolařík, V., Hopp, J., Horák, S., Stoklasa, B., Úlehla, L. Compensated telecentric F-Theta projection objective for micromachining applications at 257 nm. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., Meopta - optika, s.r.o., 2022. Funkční vzorek APL-2022-38.
Venos, Š., Stoklasa, B., Kuchařík, J., Hopp, J., Krátký, S., Kolařík, V., Pokorný, P., Fořt, T. Difraktivní mnohonásobný dělič svazku s vysokou přesností úhlové distribuce. Meopta - optika s.r.o., 2022. Funkční vzorek APL-2022-08.
Venos, Š., Stoklasa, B., Kuchařík, J., Hopp, J., Krátký, S., Kolařík, V., Pokorný, P. Tvarovač svazku s homogenizující funkcí do tvaru TopHat. Meopta - optika s.r.o., 2022. Funkční vzorek APL-2022-09.
2021
Kolařík, V., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Matějka, M., Burda, D., Ondříšková, M., Lalinský, O., Horodyský, P. Litografická maska. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2021. Funkční vzorek APL-2021-03.
Kolařík, V., Krátký, S., Meluzín, P., Kopal, J., Brunn, O., Fordey, T., Schovánek, P. Specializovaná fotomaska pro měření projekční optiky. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., Univerzita Palackého v Olomouci, Meopta - optika, s.r.o., 2021. Funkční vzorek APL-2021-04.
Kolařík, V., Horáček, M., Meluzín, P., Burda, D., Krátký, S., Matějka, M., Chlumská, J., Pirunčík, J., Aubrecht, I. Vzorník parciálních difrakčních a refrakčních struktur. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2021. Funkční vzorek APL-2021-02.
2020
Holá, Miroslava, Pikálek, Tomáš, Krátký, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Lazar, Josef, Kůr, J., Číp, Ondřej. Pilotní zobrazovací optika pro kontrolu kvality povrchu. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-20.
Krátký, Stanislav, Fořt, Tomáš, Matějka, Milan, Materna-Mikmeková, Eliška, Radlička, Tomáš, Řiháček, Tomáš, Sháněl, O., Schneider, M., Mareček, D. Fázová destička pro použití v transmisní elektronové mikroskopii. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-07.
Krátký, Stanislav. Speciální fotomaska pro měření zkreslení rekonstrukce obrazu. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-04.
Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Kolařík, Vladimír, Burda, Daniel. Optický element vyvazující světlo z tenké transparentní podložky. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-10.
Stoklasa, B., Venos, Š., Kuchařík, J., Hopp, J., Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Kolařík, Vladimír, Fořt, Tomáš, Pokorný, Pavel. Binární difrakční optický element pro korekci Besselovského svazku. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-03.
Škoda, D., Pavlačík, P., Proroková, J., Matějka, M., Meluzín, P., Krátký, S., Kolařík, V., Burda, D. Difraktivní optický element velikosti záměrného bodu vyvazující dopadající záření do 1. difrakčního řádu s využitím ve sportovní a vojenské optice. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2020. Funkční vzorek APL-2020-23.
2019
Brunn, Ondřej, Krátký, Stanislav, Horáček, Miroslav, Lahoda, Jaroslav, Matějka, Milan. Aparatura pro merení difrakcní úcinnosti a vyzarovací charakteristiky. 2019.
Knápek, Alexandr, Klein, Pavel, Delong, A. Aparatura pro opakovatelnou přípravu nanometrických sond. 2019.
Knápek, Alexandr, Klein, Pavel, Delong, A. Zařízení pro opakovatelnou výrobu ostrých hrotů. 2019. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 07.10.2019. 33278.
Krutil, Vojtěch, Dupák, Libor, Fořt, Tomáš, Matějka, Milan, Srnka, Aleš, Vlček, Ivan, Urban, Pavel. Držák vzorků s elektrickým kontaktováním. 2019. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 03.12.2019. 33444.
Pikálek, Tomáš, Hucl, Václav, Krátký, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Konečný, P., Kůr, J., Číp, Ondřej. Bezkontaktní snímač rozptýleného světla pro povrchovou diagnostiku. 2019.
Pikálek, Tomáš, Hucl, Václav, Krátký, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Číp, Ondřej. Bezkontaktní snímač rozptylu světla pro povrchovou diagnostiku. 2019. Brno : Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 30.07.2019. 33047.
Matějka, Milan, Kolařík, Vladimír, Sháněl, O., Schneider, M. Technologie pro přípravu fázových destiček. 2019.
2018
Drozd, Michal, Knápek, Alexandr, Král, Stanislav, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Pavelka, Jan, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr. Aparatura pro detekci nečistot v naneseném rezistu. 2018.
Knápek, Alexandr, Sobola, D. STM sonda z grafitu a metody její přípravy. 2018.
Meluzín, Petr, Krátký, Stanislav, Kopal, Jaroslav, Kolařík, Vladimír. Difrakční obrazové zařízení s motivem 100 let Republiky. 2018.
2017
Kolařík, Vladimír, Meluzín, Petr, Horáček, Miroslav, Král, Stanislav, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana. Fylotaktické difrakční obrazové zařízení. 2017.
Krátký, Stanislav, Ježek, Jan, Pilát, Zdeněk, Sobota, Jaroslav. Substrát pro SERS. 2017.
Meluzín, Petr, Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Horáček, Miroslav, Král, Stanislav, Knápek, Alexandr, Giričová, D., Brunn, Ondřej. Propagační hologram “av21”Strategie AV ČR AV21. 2017.
Smluvní výzkum
2023
Horáček, M., Kolařík, V., Matějka, M., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Král, S. SMV-2023-01: Reliéfní struktury na principu diftraktivní optiky. Brno: IQS nano s.r.o., 2023.
Horáček, M., Kolařík, V., Matějka, M., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Král, S. SMV-2023-02: Reliéfní optické prvky pro tvarování světelných svazků. Brno: IQS Group s.r.o., 2023.
Knápek, A., Horáček, M., Klein, P. SMV-2023-03: Držák autoemisních katod. Brno: Department of Physics, Mu'tah University, 2023.
Kolařík, V., Krátký, S., Kopal, J. SMV-2023-04: Šablona pro bio–aplikace připravená elektronovou litografií. Brno: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta technologická, 2023.
Matějka, M., Krátký, S., Meluzín, P., Košelová, Z., Chlumská, J., Horáček, M., Kolařík, V., Knápek, A. SMV-2023-05: DI2023. Brno: DELONG INSTRUMENTS a.s., 2023.
Matějka, M., Krátký, S., Meluzín, P., Košelová, Z., Chlumská, J., Horáček, M., Kolařík, V., Knápek, A. SMV-2023-06: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: TESCAN Brno a.s., 2023.
2022
Horáček, M., Kolařík, V., Matějka, M., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Král, S. SMV-2022-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS nano s.r.o., 2022.
Matějka, M., Horáček, M., Meluzín, P., Chlumská, J., Král, S., Kolařík, V., Krátký, S. SMV-2022-57: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: TESCAN Brno s.r.o., 2022.
2021
Horáček, M., Kolařík, V., Matějka, M., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Král, S. SMV-2021-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS nano s.r.o., 2021.
Horáček, M., Kolařík, V., Matějka, M., Krátký, S., Chlumská, J., Meluzín, P., Král, S. SMV-2021-07: Reliéfní mikrostruktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS Group s.r.o., 2021.
Matějka, M., Horáček, M., Chlumská, J., Kolařík, V., Krátký, S. SMV-2021-03: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: Tescan Brno, s.r.o., 2021.
Matějka, M., Horáček, M., Chlumská, J., Kolařík, V., Krátký, S. SMV-2021-31: TELIGHT zaměřovací obrazec. Brno: TELIGHT Brno, s.r.o., 2021.
Meluzín, P., Chlumská, J., Kolařík, V., Kopal, J. SMV-2021-02: Vývoj a realizace amplitudové masky pro justáž optomechanických soustav. Brno: Meopta - optika, s.r.o., 2021.
2020
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2020-19: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS nano, 2020. 21 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2020-20: Reliéfní mikrostruktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS Group, 2020. 15 s.
Matějka, Milan, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Chlumská, Jana, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Pokorná, Zuzana. SMV-2020-23: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: Tescan Brno s.r.o., 2020. 8 s.
Matějka, Milan, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Chlumská, Jana, Král, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Knápek, Alexandr. SMV-2020-24: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: Delong Instruments, a.s., 2020. 7 s.
2019
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS nano s.r.o., 2019. 16 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-02: Analýza planárních mikrostruktur vytvářených kombinovaným způsobem zápisu. Brno: IQS nano s.r.o., 2019. 5 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-04: Velkoplošné nanášení nanostruktur. Brno: Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT, 2019. 5 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-75: Reliéfní mikrostruktury na principu difraktivní optiky. Brno: IQS nano s.r.o., 2019. 6 s.
Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-03: Tenké membrány. Brno: FEI Czech Republic, 2019. 5 s.
Krátký, Stanislav, Matějka, Milan, Chlumská, Jana, Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2019-05: Fázové mřížky. Brno: Ústav termomechaniky AV ČR, 2019. 5 s.
Matějka, Milan, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Chlumská, Jana, Král, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Knápek, Alexandr. SMV-2019-06: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: TESCAN Brno s.r.o., 2019. 4 s.
2018
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2018-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: API Optix, 2018. 10 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2018-02: Analýza planárních mikrostruktur vytvářených kombinovaným způsobem zápisu. Brno: API Optix, 2018. 10 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2018-03: Optimalizace přípravy difraktivních optických struktur. Brno: IQ Structures, 2018. 8 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav, Fořt, Tomáš, Oulehla, Jindřich, Pokorný, Pavel. SMV-2018-04: Planární mikrostruktury pro optické aplikace. Brno: Meopta - optika, 2018. 10 s.
Matějka, Milan, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Chlumská, Jana, Král, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Knápek, Alexandr. SMV-2018-05: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: TESCAN Brno, 2018. 5 s.
2017
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: API Optix, 2017. 10 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-02: Analýza planárních mikrostruktur vytvářených kombinovaným způsobem zápisu. Brno: API Optix, 2017. 20 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-03: Planární mikrostruktury pro optické aplikace. Brno: IQ Structures, 2017. 20 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-04: Vývoj technologie elektronové litografie. Brno: OpSec Security Limited, 2017. 6 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-05: Vývoj matrice pro NIL. Brno: Slovenská technická univerzita v Bratislavě, 2017. 6 s.
Horáček, Miroslav, Kolařík, Vladimír, Matějka, Milan, Krátký, Stanislav, Chlumská, Jana, Meluzín, Petr, Král, Stanislav. SMV-2017-27: Charakterizace vzorků s deponovanými tenkými vrstvami. Brno: IQ Structures, 2017. 8 s.
Matějka, Milan, Horáček, Miroslav, Meluzín, Petr, Chlumská, Jana, Král, Stanislav, Kolařík, Vladimír, Krátký, Stanislav, Knápek, Alexandr. SMV-2017-06: Vývoj testovacích preparátů pro REM. Brno: TESCAN, 2017. 6 s.
2016
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2016-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. Brno: API Optix s.r.o., 2016. 10 s.
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Matějka, Milan; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2016-02: Lift-off technologie pro metalické mikrostruktury. Brno: Thermo Fisher Scientific, 2016. 4 s.
Matějka, Milan; Horáček, Miroslav; Meluzín, Petr; Chlumská, Jana; Král, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Krátký, Stanislav; Fořt, Tomáš; Oulehla, Jindřich; Šerý, Mojmír. SMV-2016-03: Přesné reliéfní struktury. Brno: TESCAN Brno s.r.o., 2016. 10 s.
2015
Král, Stanislav. SMV-2015-12: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. [SMV-2015-12: Relief structures based on diffractive optics.] Brno: API Optix s.r.o, 2015. 10 s.
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2015-14: Technologie elektronové litografie. [SMV-2015-14: Development of e-beam lithography technology.] Brno: Optaglio s.r.o, 2015. 4 s.
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2015-15: Vývoj amplitudově fázové masky. [SMV-2015-15: Development of combined amplitude/phase photo masks.] Brno: Univerzita Palackého v Olomouci, Přírodovědecká fakulta, 2015. 6 s.
Krátký, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Horáček, Mirosla; Matějka, Milan; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2015-13: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. [SMV-2015-13: Relief structures based on diffractive optics.] Brno: Optometrics Corp, 2015. 4 s.
Matějka, Milan; Horáček, Miroslav; Meluzín, Pet; Chlumská, Jana; Král, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Krátký, Stanislav. SMV-2015-35: Vývoj testovacích preparátů pro REM. [SMV-2015-35: Development of test speciments for SEM.] Brno: TESCAN Brno s.r.o, 2015. 4 s.
2014
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav. SMV-2014-01: Reliéfní struktury na principu difraktivní optiky. [SMV-2014-01: Relief structures based on diffractive optics.] Brno : API Optix s.r.o, 2014. 2 s.
Matějka, Milan; Horáček, Miroslav; Meluzín, Petr; Chlumská, Jana; Král, Stanislav; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav. SMV-2014-28: Vývoj testovacích preparátů pro REM. [SMV-2014-28: Development of test specimens for SEM.] Brno : Tescan Brno s.r.o, 2014. 2 s.
2013
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana, Král, Stanislav. SMV-2013-01: Reliéfní struktury na principu diftraktivní optiky. [SMV-2013-01: Relief structures based on diffractive optics.] Brno : API Optix s.r.o, 2013. 6 s.
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Král, Stanislav. SMV-2013-15: Reliéfní struktury na principu diftraktivní optiky. [SMV-2013-15: Relief structures based on diffractive optics.] Brno : IQ Structures, s.r.o, 2013. 6 s.
2012
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Král, Stanislav. SMV-2012-05: Reliéfní struktury na principu diftraktivní optiky. [SMV-2012-05: Relief structures based on diffractive optics.] Brno : IQ Structures, s.r.o, 2012. 6 s.
Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Horáček, Miroslav, Král, Stanislav. SMV-2012-01: Testovací preparát pro SEM. [Testing specimens for SEM.] Brno : FEI Czech Republic s.r.o, 2012. 5 s.
Matějka, Milan; Kolařík, Vladimír; Urbánek, Michal; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Horáček, Miroslav; Král, Stanislav. SMV-2012-12: Testovací preparát pro SEM. [SMV-2012-12: Testing specimens for SEM.] Brno : TESCAN ORSAY HOLDING, a.s, 2012. 3 s.
Urbánek, Michal. SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev. [SMV-2012-19: Topography of thin polymer films.] Brno : Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, 2012. 4 s.
2010
Polívka, L. ; Kolařík, Vladimír; Mikšík, P. Roční zpráva o řešení projektu MPO FR-TI1/574: Optimalizace výrobních postupů v elektronové litografií. [Annual report, project MPO FR-TI1/574: Optimization of production flow in electron-beam lithography and mastering.] Řež u Prahy : Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, 2010. 116 s.