Workshop na téma "ToF spektroskopie prošlých elektronů 2D krystaly“

Dne 8. 7. 2019 se konal jednodenní workshop na téma „ ToF spektroskopie prošlých elektronů 2D krystaly“ (ToF spectrometer - Time of Flight spectrometer) pořádaný vědci z oddělení laboratoří Elektronové mikroskopie ÚPT AV ČR.  Pozvání přijali významní zahraniční hosté prof. Wolfgang Werner z Technische Universität Wien (TU Wien) a prof. Teddy Asefa z Rutgers Univerzity. Oba vědci prezentovali a diskutovali své zkušenostmi s vědeckými pracovníky ze skupiny Mikroskopie a spektroskopie povrchů, kterou vede mladá vědkyně dr. Eliška Materna Mikmeková a je zároveň i vedoucí tématu „Nekonvenční elektronová spektroskopie/mikroskopie pokročilých nanomateriálů pro jejich využití v praxi“. Téma je realizováno v rámci Projektu Strategie AV21, program „Diagnostické metody a techniky“.
"Problematika stanovení neelastické střední volné dráhy (IMFP) elektronů se řeší od počátků spektroskopie. Znalosti tohoto významného parametru pro velmi nízké energie elektronů, E ≤ 100 eV, jsou však stále nedostatečné. Navíc pro moderní dvojrozměrné (2D) materiály atraktivní pro polovodičový průmysl nejsou k dispozici. Vzhledem k malé tloušťce 2D materiálů bylo vyvinuto s přispěním Projektu Strategie AV 21 unikátní zařízení umožňující analyzovat nanomateriály pomocí elektronů prošlých vzorkem v mikroskopickém režimu (rozsah energií: 0 – 5keV) a dále nekonvenční metodou doby letu (TOF, E ≤ 300 eV). Během jednodenního semináře byly prezentovány dosažené výsledky v dané problematice a diskutován další postup experimentů“ představila E. Materna Mikmeková realizované téma.
Jednodenního semináře se zúčastnilo 9 vědců včetně zahraničních hostů.