Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie (STEM) s velmi pomalými elektrony

Byla ověřena metoda prozařování velmi tenkých vrstev látky pomocí elektronů o energii stovek až desítek eV. Vzorek o tloušťce 10 nm a méně je vkládán do plochého držáku přiváděného na vysoký záporný potenciál, který brzdí primární svazek elektronů rastrovacího mikroskopu na libovolně nízkou energii a naopak urychluje odražené i prošlé elektrony na detektory umístěné nad a pod vzorkem. Elektrony o energii stovek eV a nižší interagují s materiálem vzorku podstatně intenzivněji než běžně používané rychlé elektrony a poskytují tak velmi vysoký obrazový kontrast při rozlišení obrazu jen málo odlišném od jeho nominální hodnoty. Tenké tkáňové řezy je možné zobrazovat bez jakéhokoliv napouštění solemi velmi těžkých kovů.