Rastrovací elektronový mikroskop MAGELLAN 400

Rastrovací elektronový mikroskop MAGELLAN 400 se subnanometrovým rozlišením – nástroj pro analýzu nanomateriálů a nanostruktur je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Dále umožňuje pozorovat vzorky pro transmisní elektronovou mikroskopii a nevodivé vzorky.
 

Hlavní přednosti:

  • Rozlišení pod 1 nm v rozsahu primárních napětí 1 kV – 30 kV
  • Tubus s UC technologií – minimalizuje vliv chromatické vady
  • Zvýšení čistoty povrchu vzorků pomocí integrovaného plazmatického čištění a kryokondenzačních prvků
  • Zobrazuje zároveň prošlé (STEM detektor) i odražené elektrony (SE, BSE detektory)
  • Upraven pro detekci pomalých elektronů, rozlišení 1,5 nm na energii 200 eV
  • Analýza prvkového složení vzorku (EDX), jeho krystalografické orientace (EBSD) a obrazu katodoluminiscence (CL)
  • Příprava a pozorování vzorků za teplot kapalného dusíku (kryo-SEM)
Kontakt:
Ing. Filip Mika, Ph.D.
tel.: +420 541 514 298

www.lem.isibrno.cz


 

Magellan 400