Nové zobrazovacímetody elektronovémikroskopie umožňujímnohemúspěšněji shromažďovat komplexní údaje o materiálu, tedy souhrn dat o chemické, krystalové i elektronické struktuře.

Mikroskopie pomalými zpětně odraženými elektrony, které byly emitovány pod velkými úhly od normály k povrchu a které proto nejsou ve standardníchmikroskopech detekovány, přinášejí podstatně rozšířený rozsah informací.

Zobrazení polykrystalického materiálu zpětně odraženými elektrony o energii stovek elektronvoltů přináší v případě, že jsou zachyceny všechny emitované částice, vysoký kontrast zrn polykrystalického materiálu a dokonce zviditelňuje s vysokým rozlišením rozložení vnitřního pnutí a lokální deformace.