Laserové interferometry a refraktometry

S ohledem na současné trendy v nanotechnologii byl vyvinut Michelsonův interferometer na vlnové délce 633 nm v diferenčním uspořádáním pro měření vzdáleností s nanometrovou přesností. Interferometr využívá čtyřnásobného průchodu laserových svazků v měřícím i referenčním rameni. Použitá technika elektronického dělení interferenčního proužku umožňuje celkové rozlišení 0,3 nm (lambda/2048). Pro tento interferometr byla teoreticky zpracována a experimentálně ověřena metoda zvýšení linearity stupnice založená na digitálním zpracování signálů, která umožňuje snížit odchylku linearity stupnice pod hodnotu ± 1 nm. Pro testování linearity stupnice tohoto interferometru byl vyvinut soubor tří verifikačních metod. V oblasti měření indexu lomu vzduchu byl vyvinut laserový refraktometr na bázi diferenčního interferometru. Dále probíhá výzkum refraktometru založeného na bázi Fabry-Perotova interferometru a polovodičových laserů.