Kvantitativní zobrazování

Vhodně kalibrovaný rastrovací elektronový mikroskop (REM) lze použít také pro kvantitativní zobrazování. Pokud je REM vybaven velmi citlivým prstencovým detektorem pro temné pole (angl. annular dark-field, ADF), jeho signál lze pomocí Monte Carlo simulací použít pro měření: lokální tloušťky tenkých filmů a nanočástic, molekulární hmotnosti makromolekulárních komplexů (např. hmotnosti jednotlivých částic, hmotnosti na jednotku délky filamentů a hmotnosti na jednotku plochy vrstev).