Laserové svařování
Difrakční optický prvek
Laserová svařovací hlava
Absorpční laserová spektroskopie
Opticky zachycená nanočástice
Elektronová svářečka
Speciální elektronika
Mikroskop pro pomalé elektrony
Identifikace biomasy Ramanovou spektroskopií
Magnetická rezonance
Holografická endoskopie optickým vláknem

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F s ultravysokým rozlišením – nástroj pro sledování nanomateriálů a nanostruktur.
Je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Díky režimu velmi pomalých elektronů je vhodný i pro pozorování nevodivých vzorků.

Hlavní přednosti:

Rozlišení 1 nm při primárním napětí 15 kV
Rozlišení 2,2 nm při primárním napětí 1 kV
Vysoké rozlišení v rozsahu primárních proudů 1 pA až 2 nA
Upraven pro detekci pomalých elektronů

Kontakt:

Ing. Filip Mika, Ph.D.

tel.: +420 541 514 298

e-mail: mika@isibrno.cz

www.lem.isibrno.cz

Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F