DNY ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPIE 2019

www.dem.brno.cz

Program, který v rámci DEM 2019 Ústav přístrojové techniky AV ČR návštěvníkům nabízí:

Pro návštěvníky letošního ročníku DEM 2019 jsme připravili v jednotlivých laboratořích tyto zajímavosti:

Laboratoř environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM)

Světově unikátní laboratoř environmentální rastrovací elektronové mikroskopie vybavená speciálně upraveným mikroskopem Quanta 650FEG. Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie je jednou z nejuniverzálnějších elektronově-mikroskopických metod. Její předností je možnost studia morfologie elektricky nevodivých, polovodivých, vlhkých až kapalných vzorků v přirozeném stavu s rozlišením v řádu milimetrů až jednotek nanometrů. Podstatnou výhodou je možnost in-situ charakterizace vzorků v podmínkách dynamicky se měnícího prostředí, pod vlivem působení různých fyzikálních či chemických vlivů, to vše v kombinaci s možností přímo měřit elektrické i neelektrické veličiny. Možná je i lokální injektáž kapalin a plynů na vzorek, integrovaná do mikromanipulátorů. Speciální nadstavbou je vysoce citlivá prvková mikro analýza nativních a nepokovených vzorků a v kombinaci s dalšími mikroskopickými metodami také korelativní mikroskopie. Viz Obr. 3

Laboratoř vysokorozlišovací rastrovací elektronové mikroskopie a charakterizace materiálů (Magellan)

V rámci exkurze se podíváte, jak pod mikroskopem vypadá to, co dýcháte, pijete a jíte? Ukážeme Vám, jak vypadají a z čeho jsou složené běžné věci okolo vás, když je zvětšíte třeba sto tisíckrát. Viz Obr. 4

Laboratoř Mikroskopie a Spektroskopie povrchů (UHV SLEEM)

Na počátku devadesátých let vědci z UPT zavedli metodu rastrovací elektronové mikroskopie se vzorkem v elektrickém poli, umožňující používat libovolnou energii dopadu elektronů na preparát bez zhoršování kvality obrazu. Na základě této metody byly v ústavu vyvinuty a uvedeny do provozu mikroskopy s ultravysokým vakuem pro studium velmi čistých povrchů, které využívají pro zobrazování pomalé elektrony. Pomalé elektrony umožňují zobrazit s vysokým kontrastem kupříkladu zrna v polykrystalických materiálech včetně rozložení vnitřního pnutí, tenké povrchové vrstvy s vysokou citlivostí vůči jejich morfologii, dopované oblasti v polovodiči s vysokým kontrastem hustoty dopantu, velmi tenké tkáňové řezy bez použití solí těžkých kovů k fixaci resp. kontrastování, dvourozměrné krystaly s vysokým kontrastem detailů struktury i krystalové orientace, nanometrové precipitáty a podobné zanořené strukturní detaily a mnoho dalšího. Viz Obr. 5

Obr. 3 - Corytucha ciliata/síťnatka platanová – vzorek bez pokovení v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu QUANTA 650FEG	Obr. 4 - Laboratoř vysokorozlišovací rastrovací elektronové mikroskopie a charakterizace materiálů

Obr. 5 - Ultravysokovakuový rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony pro studium čistých povrchů a dvourozměrných krystalů sestaven v ÚPT AV ČR